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型号:EDX1800
型号:GCMS6800
型号:GCMS6800
型号:LC-310
型号:GCMS6800
型号:EDX1800B
型号:EXPLORER3000
型号:Thick800A
型号:Thick 800A
型号:Explorer
型号:Thick 800A
型号:EDX1800B
型号:thick800a
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关于我们
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Registered capital用心服务
Careful service江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技(仙桃)有限公司五家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司两家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。江苏天瑞仪器股份有限公司业从事X射线荧光光谱仪,RoHS测试仪,RoHS2.0测试仪、ROHS十项测试仪,重金属检测仪,XRF,等离子体发射光谱仪,ICP,原子吸收分光光度计,AAS,液相色谱仪,LC,气相色谱仪,GC,原子荧光光谱仪,AFS,光电直读光谱仪,OES,EDXRF。本公司为广大电子,电器,五金,塑胶,鞋材,鞋厂,皮具,箱包企业提供无铅测试仪器,RoHs检测仪,EN71~3检测仪,玩具安全检测...
推荐产品
技术文章
2025
6-5ROHS 2.0检测设备的多领域应用
在当今科技飞速发展的时代,电子产品如潮水般涌入人们的生活。然而,电子产品中含有的有害物质对环境和人类健康构成了潜在威胁。为了应对这一问题,欧盟推出了RoHS指令,而ROHS2.0检测设备则成为了确保电子产品符合环保要求的关键守护者。RoHS指令全称为限制使用某些有害物质指令,于2003年在欧盟颁布实施,旨在限制电子产品中铅、汞、镉、六价铬等有害物质的含量。RoHS2.0指令是对原指令的修订和更新,从2013年开始实施,覆盖范围更广,除了上述四种物质外,还限制了苯并[a]芘等多...2025
6-3ROHS检测仪:原理、应用与维护全解析
一、ROHS检测仪的核心原理ROHS检测仪(又称X射线光谱仪)是检测电子电气产品中有害物质的关键设备,其核心技术基于X射线荧光光谱分析(XRF)。目前主流仪器分为两类:波长色散型(WDXRF):通过分光晶体和测角仪精确分离不同波长的X射线,适合高精度检测,但结构复杂。能量色散型(EDXRF):直接测量X射线能量强度,结构简单、检测速度快,适用于常规筛查。两种类型均能精准检测铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr??)等ROHS指令限定的重金属,以及塑胶中的溴化阻燃剂...2025
5-28TIC-680离子色谱仪测试塑胶粒子中的氟、氯、溴
随着全球环保法规的日益严格,塑料制品中卤素(如氟、氯、溴)含量的控制成为制造业和质检领域的重要课题。卤素化合物(如阻燃剂、增塑剂)在塑料加工中广泛应用,但其残留可能导致环境污染、人体健康风险(如致癌性)及电子设备腐蚀等问题。欧盟RoHS指令、国际电工委员会《IEC61249-2-21:2003印刷板材料和其他连接结构材料,第2-21部分:具有特定易燃性的铜包覆层夹层板》等法规均对卤素含量提出明确限值,氯≤900ppm,溴≤900ppm,溴和氯的总和≤1500ppm;部分领域对...2025
5-22ROHS2.0快速热裂解RoHS检测仪
ROHS2.0快速热裂解RoHS检测仪产品说明、技术参数及配置OHS2.0快速热裂解RoHS检测仪主要应用UPY-90S快速热裂解RoHS检测仪(Py/TD-GC法)具有不需要化学前处理,无环评困扰,一键式操作,定制化的软件服务,操作简单快捷,为企业实现降本增效,是企业质量管控的有效手段之一。邻苯快速筛查无需繁杂的样品前处理过程,二十分钟即可完成邻苯二甲酸酯的筛查分析。无环评困扰样品前处理无需化学试剂,零危废生成、人机共存无敏环境,生态友好操作模式。一键式操作系统一键式操作,...2025
5-7提高精准度:五金端子膜厚仪的使用技巧解析
五金端子膜厚仪是一种常用于精密测量金属表面涂层厚度的设备,广泛应用于五金、电子等行业。其精准度直接影响到产品的质量和性能,因此,掌握正确的使用技巧对于确保测量结果的准确性至关重要。本文将为您解析如何提高五金端子膜厚仪的测量精准度。1、选择合适的仪器型号不同型号的膜厚仪适用于不同类型的涂层和材料。在选择膜厚仪时,应根据测量对象的材质、涂层类型和测量范围来选定适合的仪器。例如,涂层较厚的金属表面和薄涂层的非金属表面,需要不同功能和性能的膜厚仪。选对仪器是提高测量精准度的第一步。2...2025
4-8X-ray膜厚仪在半导体制造中的精准测量
随着半导体技术的不断进步,对薄膜材料的精确控制和测量要求也越来越高。X-ray膜厚仪作为一种先进的非接触式测量工具,在半导体制造中广泛应用,尤其在薄膜厚度的精准测量方面,发挥着不可替代的作用。一、X-ray膜厚仪原理X-ray膜厚仪基于X射线的衍射原理,通过测量X射线与薄膜表面或薄膜与基底之间相互作用的变化来计算膜层的厚度。X射线照射到薄膜表面时,会发生散射和吸收。根据不同材料的性质,X射线的衍射和吸收程度会有所不同。膜厚仪通过探测这些衍射信号,结合已知的材料数据,计算出膜层...TEL:13802284651
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